Difference between revisions of "SEM P-Z"

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|    || Phillips  || FEG XL 40  ||    ||    ||    ||    || EDAX  ||    || [[http:''www.ebay.com/itm/PHILIPS-FEG-XL-40-SCANNING-ELECTRON-MICROSCOPE-W-EDAX-PV9760-57-/300980801721?pt=LH_DefaultDomain_0&hash=item4613da90b9 || 100,000]]  ||    ||    ||    ||  
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|    || Phillips  || FEG XL 40  ||    ||    ||    ||    || EDAX  ||    || [http://www.ebay.com/itm/PHILIPS-FEG-XL-40-SCANNING-ELECTRON-MICROSCOPE-W-EDAX-PV9760-57-/300980801721?pt=LH_DefaultDomain_0&hash=item4613da90b9 100,000]  ||    ||    ||    ||
 
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|    || Phillips  || SEM 505  || 1980  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "new doped-yttrium silicate scintillator for the  detection of backscattered electrons in its 1980 model SEM 505; this new  detector was 200 times more sensitive to backscattered electrons than  previous scintillators" [1980s]  
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|    || Phillips  || SEM 505  || 1980  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "new doped-yttrium silicate scintillator for the  detection of backscattered electrons in its 1980 model SEM 505; this new  detector was 200 times more sensitive to backscattered electrons than  previous scintillators" [1980s]
 
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|    || Phillips  || SEM 515  || 1984  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "improved on the 505 by  adding computer-controlled automatic focussing and astigmation correction" [1980s]  
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|    || Phillips  || SEM 525 EB  || 1985  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "created for functional testing of ICs" [1980s]  
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|    || Phillips  || SEM 525 IC  || 1985  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "designed for the non-destructive testing of semiconductor wafers" [1980s]  
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|    || Phillips  || SEM 525 IC  || 1985  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "designed for the non-destructive testing of semiconductor wafers" [1980s]
 
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|    || Phillips  || EM 300 accessory  || 1968  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "attachment turned the TEM into an STEM" [1960s]  
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|    || Phillips  || EM 300 accessory  || 1968  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "attachment turned the TEM into an STEM" [1960s]
 
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|    || Phillips  || PSEM 500  || 1972  || 50  ||    || 10  ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "Philips' first SEM" [1970s]  
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|    || Phillips  || PSEM 500  || 1972  || 50  ||    || 10  ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "Philips' first SEM" [1970s]
 
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|    || Phillips  || PSEM 500M  || 1973  || 50?  ||    || 10?  ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "designed for larger samples, accommodating  specimens with dimensions of 153 mm x 146 mm x 84 mm" [1970s]  
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|    || Phillips  || PSEM 500M  || 1973  || 50?  ||    || 10?  ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "designed for larger samples, accommodating  specimens with dimensions of 153 mm x 146 mm x 84 mm" [1970s]
 
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| {{:microscope:sem:dc:phillips:xl40:dc_sem.jpg?300}} || Phillips  || XL-30  ||    ||    || W  || 3.5nm @ 30kV  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||  
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|    || SEC  || SNE-1500M  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || [[http:''siliconpr0n.org/media/sec/sne-1500m/SNE-1500M Manual_eng_042308[1].pdf || Yes]]  ||    ||    || Tabletop  
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|    || Tescan  || VEGA3  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || [[http:''siliconpr0n.org/media/tescan/vega3/VEGA_manual_GEN_3_04_tisk.pdf || Yes]]  ||    ||    ||  
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|    || Tescan  || VEGA3  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || [http://siliconpr0n.org/media/tescan/vega3/VEGA_manual_GEN_3_04_tisk.pdf Yes]  ||    ||    ||
 
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|    || Topcon  || ABT-32  ||    ||    ||    || [[http:''ds130.com/ABT-32.htm || 5]]  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||  
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|    || Topcon  || SM-720  ||    ||    ||    || [[http:''ds130.com/SM-720.htm || 0.9]]  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||  
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|    || Topcon  || SM-720  ||    ||    ||    || [http://ds130.com/SM-720.htm 0.9]  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||
 
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|    || Zeiss  || DSM 960  ||    ||    ||    ||    ||    ||    || [[http:''www.ebay.com/itm/ZEISS-SEM-Scanning-Electron-Microscope-Model-DSM-960-Turbo-Pump-/151026866735?pt=LH_DefaultDomain_0& || link]]  ||    ||    ||    ||  
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|    || Zeiss  || DSM 960  ||    ||    ||    ||    ||    ||    || [http://www.ebay.com/itm/ZEISS-SEM-Scanning-Electron-Microscope-Model-DSM-960-Turbo-Pump-/151026866735?pt=LH_DefaultDomain_0& link]  ||    ||    ||    ||
 
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|    || Zeiss  || NEON 40 EsB  ||    ||    || FE  || 2.5 nm @ 1 kV  ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "Canion FIB column"  
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|    || Zeiss  || NEON 40 EsB  ||    ||    || FE  || 2.5 nm @ 1 kV  ||    ||    ||    ||    ||    ||    || "Canion FIB column"
 
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|    || Zeiss  || SIGMA  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || [[http:''siliconpr0n.org/media/carl_zeiss/sigma/SEM_manual.pdf || Yes]]  ||    ||    ||  
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|    || Zeiss  || SIGMA  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||    || [http://siliconpr0n.org/media/carl_zeiss/sigma/SEM_manual.pdf Yes]  ||    ||    ||
 
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|    || Zeiss  || Supra 55VP  ||    ||    || FE  ||    <br />1.7 nm @ 1 kV                <br />  <br />2 nm @ 30 kV (VP)  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||  
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|    || Zeiss  || Supra 55VP  ||    ||    || FE  ||    <br />1.7 nm @ 1 kV                <br />  <br />2 nm @ 30 kV (VP)  ||    ||    ||    ||    ||    ||    ||
 
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Revision as of 11:28, 26 December 2018


Image Vendor Model Year kV Gun Resolution (nm) Features List price Ask price Manual Schem SW Notes
Phillips FEG XL 40 EDAX 100,000
Phillips 501 1977 30 7 [1970s]
Phillips 501B 1979 30? 7? EDS, WDS [1970s]
Phillips SEM 505 1980 "new doped-yttrium silicate scintillator for the detection of backscattered electrons in its 1980 model SEM 505; this new detector was 200 times more sensitive to backscattered electrons than previous scintillators" [1980s]
Phillips SEM 515 1984 "improved on the 505 by adding computer-controlled automatic focussing and astigmation correction" [1980s]
Phillips SEM 525 EB 1985 "created for functional testing of ICs" [1980s]
Phillips SEM 525 IC 1985 "designed for the non-destructive testing of semiconductor wafers" [1980s]
Phillips EM 300 accessory 1968 "attachment turned the TEM into an STEM" [1960s]
Phillips PSEM 500 1972 50 10 "Philips' first SEM" [1970s]
Phillips PSEM 500M 1973 50? 10? "designed for larger samples, accommodating specimens with dimensions of 153 mm x 146 mm x 84 mm" [1970s]
Microscope sem dc phillips xl40 dc sem.jpg Phillips XL-30 W 3.5nm @ 30kV
RCA EMU-3 275,000 for EMU-3/4 (way overpriced?)
RCA EMU-4 275,000 for EMU-3/4 (way overpriced?)
SEC SNE-1500M Manual_eng_042308[1.pdf Yes] Tabletop ]
SEC SNE-3000M Tabletop
SEC SNE-3000MB Tabletop
SEC SNE-3200M Tabletop
SEC SNE-4500M Tabletop
Seron AIS2100C
Seron AIS2200
Seron AIS2300C
Tescan VEGA3 Yes
Topcon ABT-32 5
Topcon ABT-60 4
Topcon ABT-150
Topcon SM-720 0.9
Zeiss DSM 960 link
Zeiss NEON 40 EsB FE 2.5 nm @ 1 kV "Canion FIB column"
Zeiss SIGMA Yes
Zeiss Supra 55VP FE
1.7 nm @ 1 kV

2 nm @ 30 kV (VP)
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